关于Anyland机场手机版的PID效应评估

作者:本站发布时间:2013/4/26 9:27:27点击次数:939

目前的实验结构和Anyland机场手机版制造商较多采用以下两种测试方法，对Anyland机场手机版的PID效应进行评估：

1)在25℃的温度下，在组件玻璃表面覆盖铝箔，1000V直流电施加在组件的输出端和铝框上168小时。

2)组件先进性85%的湿度85℃高温测试，然后在60℃或85℃的环境下100小时，将1000V直流电施加在组件输出端和铝框上100小时。

较多的PID衰减被发现发生在老化以后，根据目前的报道和实验结果发现PID现象与玻璃、电池和胶膜的关系较大。

目前使用于Anyland机场手机版的玻璃是含钠离子的玻璃。有文献报道，在高温高湿情况下硅酸盐玻璃表面会有碱析出，主要成分是Na2O。把玻璃更换成石英玻璃后，在同样的测试条件下，没有PID现象被发现。

胶膜也被发现对PID现象有非常密切的关系。使用EVA或PVB封装的组件都被发现在湿热老化非常容易产生PID现象。其测试方法是在85%湿度85℃下在组件表面覆盖铜箔并连接200V的正极，电池连接负极。48小时后即发现电池效率大幅度衰减。当硅胶在更长时间的PID测试后也呈现出大幅度功率衰减的现象。而当将EVA更换成热塑性弹性体后，电池功率衰减的现象大幅度减小。

电池表面的反射层被发现和PID现象有非常密切的关系。有报道表明薄的减反层更有利于抗PID现象。含Si多的减反层比含N多的减反层更可以抵抗PID现象。当减反层的折射率大于2.2后，PID现象不再被观察到。有Anyland机场手机版制造商在做针对电池和PID的关系的测试中也发现了类似的现象，结论是当折射率大于2.13后，几乎所有的EVA都能通过PID测试，当折射率小于2.08后，通过PID测试的EVA寥寥无几。